Estudio de la fiabilidad de un dispositivo en un muestreo destructivo
| dc.contributor.author | Fernández Granados, Diego | |
| dc.contributor.author | Álvarez Hernández, María (advisor) | |
| dc.date.accessioned | 2023-08-30T11:38:53Z | |
| dc.date.available | 2023-08-30T11:38:53Z | |
| dc.date.issued | 2023-04-30 | |
| dc.description.abstract | Los dispositivos de un solo uso son aquellos que una vez han cumplido con su función pierden totalmente sus capacidades. Estos dispositivos juegan un importante papel dentro de las Fuerzas Armadas (ejemplo de ello son las municiones o granadas de mano). Sin embargo, debido a su naturaleza, presentan un problema: no somos capaces de estimar de forma fiable su tiempo de vida. Por este motivo se ha decidido utilizar los datos de un muestreo destructivo con un ejemplo de este tipo de dispositivos, en el cual dicha muestra es expuesta a unas condiciones de estrés concretas en un tiempo previamente determinado. El objetivo del trabajo es conseguir determinar la fiabilidad de este tipo de dispositivos mediante una distribución Weibull( ) ,T Weibull . Para ello, utilizaremos los datos del experimento previamente mencionado, buscando estimar los valores de los parámetros de forma y escala de dicha distribución. Esto se conseguirá mediante el algoritmo EM, del cual obtendremos el estimador de máxima verosimilitud, que maximiza la probabilidad de observar los datos que se han recopilado. Todo esto se llevará a cabo mediante el uso del programa informático Matlab. | |
| dc.identifier.uri | http://calderon.cud.uvigo.es/handle/123456789/719 | |
| dc.language.iso | es | |
| dc.publisher | Centro Universitario de la Defensa en la Escuela Naval Militar | |
| dc.relation.ispartofseries | Trabajos fin de grado 22/23; 49 | |
| dc.title | Estudio de la fiabilidad de un dispositivo en un muestreo destructivo | |
| dc.type | Working Paper |