Estudio de la fiabilidad de un dispositivo en un muestreo destructivo
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Date
2023-04-30
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Publisher
Centro Universitario de la Defensa en la Escuela Naval Militar
Abstract
Los dispositivos de un solo uso son aquellos que una vez han cumplido con su función pierden totalmente
sus capacidades. Estos dispositivos juegan un importante papel dentro de las Fuerzas Armadas (ejemplo
de ello son las municiones o granadas de mano). Sin embargo, debido a su naturaleza, presentan un
problema: no somos capaces de estimar de forma fiable su tiempo de vida. Por este motivo se ha decidido
utilizar los datos de un muestreo destructivo con un ejemplo de este tipo de dispositivos, en el cual dicha
muestra es expuesta a unas condiciones de estrés concretas en un tiempo previamente determinado.
El objetivo del trabajo es conseguir determinar la fiabilidad de este tipo de dispositivos mediante una
distribución Weibull( )
,T Weibull
. Para ello, utilizaremos los datos del experimento previamente
mencionado, buscando estimar los valores de los parámetros de forma y escala de dicha distribución.
Esto se conseguirá mediante el algoritmo EM, del cual obtendremos el estimador de máxima
verosimilitud, que maximiza la probabilidad de observar los datos que se han recopilado. Todo esto se
llevará a cabo mediante el uso del programa informático Matlab.